半導体テスト

IC test(Wafer test / Final test)

ウエハテスト

wt

ウェハテスト工程では、最新鋭のテスター、プローバーを用いてウェハ状態でのテスティングを行っております。

他社に先駆けて開発した高低温測定技術を駆使し、経験豊富な技術開発部隊によるテストアプリケーション開発はもとより、迅速な生産バックアップ体制を構築しております。

また、社内システム部隊開発によるテストデータフィードバックシステムを通して、品質はもちろん、更なる低コストと短TATをご提案します。

対応製品

メモリ・ロジック・アナログの各種製品

(5インチ~12インチ)

ファイナルテスト

wt

ファイナルテスト工程では、完成品の電気的特性検査を行います。

あわせてバックエンド (バーイン・外観検査等)の対応も実施しており、最新鋭の装置(スキャナ等)を多数所有しております。

また、極小パッケージに対する加重・ハンドリング技術を開発・実用化しており、高品質のテスト環境をご提案します。

対応製品

メモリ・ロジック・アナログの各種製品

(あらゆるパッケージに対応致します)